Fraunhofer ITWM

Die Abteilung »Materialcharakterisierung und –prüfung« des Fraunhofer ITWM entwickelt in enger Zusammenarbeit mit Partnern aus Industrie und Forschung maßgeschneiderte und industriell taugliche Prüfsysteme. Eingesetzt werden dabei optische Prüfverfahren, die auf dem Spektralbereich von sichtbaren bis zu Terahertz- und Millimeterwellen basieren. Diese Systeme werden eingesetzt in:
- Qualitätssicherung und -optimierung
- Oberflächen- und Materialcharakterisierung
- In-line, at-line und off-line Inspektion